奧林巴斯的X射線熒光（XRF）礦石分析儀具有很高的分析性能，可以實時提供地球化學數據，從而有助于用戶快速確定土壤、巖石和礦石的多元素特性。XRF技術的新發(fā)展，增加了可測元素的數量，改進了檢出限，并降低了檢測時間。
Vanta VMR XRF礦石分析儀在金礦上和金礦實驗室中，可以快速方便地測量與黃金勘探相關的很多種類的樣本，而且還可以對精煉黃金產品進行快速準確的分析。
優(yōu)勢特性：
1.通過對土壤、鉆屑和鉆芯中的探途元素進行XRF分析，可以快速發(fā)現潛在的金元素礦化的情況。
2.使用XRF分析儀對樣本進行預 篩選，可以獲得優(yōu)選樣本，合理使用分析經費，以及更準確地確定鉆井的區(qū)域。
3.通過XRF技術繪制結構特性的映射圖，并識別礦化蝕變區(qū)域，可以使用戶更好地了解礦床，并有助于成功完成建模和定向工作。由于減少了稀釋方式的使用，因此可以獲得更好的金采收量。
4.在巖石地球化學應用中使用XRF技術，可以迅速、經濟地為巖石進行分類。
5.用于在礦產勘探和礦體定向應用中探測金元素和金探途元素的便攜式XRF礦石分析儀
|
礦床類型
|
地球化學特征
|
|
造山金礦
|
S、As、CO2、K+/– Sb、Te、Mo、W、Cu、Pb、Zn、Hg
|
|
高硫化淺成熱液
|
Ag、Cu、Te、Mo、Bi、Sn
|
|
低硫化淺成熱液
|
Zn、Hg、Se、K、As、Sb、Ag/Au
|
|
卡林型
|
As、Sb、Hg、Tl
|
|
斑巖型銅-金礦
|
Cu、Pb、Zn、Ag
|
|
含金矽卡巖
|
Bi、Te、As、Co
|
|
侵入型相關金礦
|
Bi、W、As、Sb、Mo、Te
|
|
火山成因塊狀硫化物礦床（VHMS）
|
Cu、Pb、Zn、Ag、Ba、K、Mg +/–CO2
|
|
鐵氧化物銅-金礦（U）
|
F、P、Co、Ni、As、Mo、Ag、Ba、U、LREE
|
|
表生金礦
|
高成色金礦 +/– 以上任何元素
|
金礦床的相關地球化學特征
探途元素和蝕變地球化學
大多數金礦床都有其特定的地球化學特征（如上表所示）。XRF礦石分析儀可以探測到這些地球化學特征，從而可使地質學***更清楚地了解他們正在勘查的地質系統(tǒng)。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。
常見金探途元素的典型XRF檢出限（Vanta VMR型號地球化學模式）
|
元素
|
檢出限（ppm）*
|
元素
|
檢出限（ppm）*
|
|
As
|
2
|
W
|
１-２
|
|
Cu
|
２-５
|
Bi
|
1
|
|
Pb
|
２-３
|
Sb
|
2
|
|
Zn
|
1
|
Ag
|
２-５
|
*每個光束120秒的檢測時間，無干擾的二氧化硅基質；請參閱奧林巴斯有關檢出限的文件，了解有關更低檢出限的詳細探討說明。
用于探測金元素的XRF礦石分析儀
眾所周知，手持式XRF礦石分析儀不能對地質樣本中低含量的金元素進行直接檢測（如：低ppm和ppb值）。基于實驗室的火試金法被普遍認為是分析金元素的 選方法。金元素的L線處于X射線熒光能量頻譜的非常擁擠的區(qū)域。在頻譜的這個區(qū)域中，來自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干擾，會使分析儀得出錯誤的金元素存在的判斷。
不過，在某些特定的情況下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脈環(huán)境（相對來說沒有干擾）或在精煉的金產品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF礦石分析儀對金元素進行直接檢測。
金礦上越來越多的實驗室正在使用XRF技術替代或補充火試金法，對礦石進行分析。請參閱奧林巴斯應用注釋“在金礦實驗室中使用手持式XRF礦石分析儀”。在礦山上，工作人員也會使用奧林巴斯手持式XRF礦石分析儀檢測活性炭中的金元素。請參閱奧林巴斯應用注釋“檢測活性炭中的金元素”。
滬公網安備31011502016460號
