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1、 工業(yè)***攝像頭高速采集，光學(xué)顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于電腦，直接觀察顆粒形貌，專用軟件進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理。
2、 提供等面積和等周長(zhǎng)兩種基準(zhǔn)下的個(gè)數(shù)、直徑、面積、體積、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時(shí)提供顆粒數(shù)、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長(zhǎng)徑比等粒度分布數(shù)據(jù)，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。
3、 對(duì)采集的圖像進(jìn)行調(diào)整高度、寬度、亮度、對(duì)比度、濾波、填充等，提高分析分辨率，網(wǎng)格標(biāo)注顆粒尺寸等功能，使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠。
4、 顆粒形貌圖像可存盤和打印，還可輸出多種格式的測(cè)試報(bào)告。另可根據(jù)行業(yè)特殊要求，設(shè)計(jì)磨料、硅灰石等專用軟件。

1、測(cè)量范圍：0.5μm～3000μm
2、全平場(chǎng)消色差物鏡，最大分辨率0.07微米，最大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍，打印最大倍數(shù)4000倍(A4幅面)

JX-2000顆粒形貌分析儀，該系統(tǒng)由光學(xué)顯微鏡、USB攝像機(jī)、圖像分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。能準(zhǔn)確的進(jìn)行顆粒形貌分析，并進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理，測(cè)試顆粒粒度分布，適用于控制分析產(chǎn)品質(zhì)量。

儀器分二種型號(hào)，技術(shù)原理、參數(shù)都相同，JX-2000A顆粒形貌分析儀配置透射顯微鏡，JX-2000B顆粒形貌分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。