機(jī)斷層掃描（CT）圖像，這是通過(guò)使用高功率旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極X射線源和高分辨率探測(cè)器來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
nano3DX允許通過(guò)改變X射線波長(zhǎng)來(lái)增強(qiáng)對(duì)比度或穿透力，拓展了可檢測(cè)樣品的類型，包括那些具有低吸收對(duì)比度的樣品（例如CFRP）、或更密集的材料（如陶瓷復(fù)合材料），因此，nano3DX擴(kuò)展了無(wú)損成像的范圍，使研究中至關(guān)重要的靈活性和洞察力有了重大突破。
nano3DX特征
◆ 高功率旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極X射線源
◆ 多種靶材可供選擇(Cr，Cu和Mo)，可得到不同波長(zhǎng)的特征X射線，以優(yōu)化不同樣品基質(zhì)的成像
◆ 光學(xué)耦合高分辨率探測(cè)系統(tǒng)，多種物鏡可供選擇
◆ 快速數(shù)據(jù)采集，源自于高亮度的X射線源和高分辨率探測(cè)系統(tǒng)，速度比同類產(chǎn)品快3倍以上
◆ 低Z材料的高對(duì)比度，實(shí)現(xiàn)了優(yōu)于0.13g/cm3的密度分辨率
◆ 支持原位實(shí)驗(yàn)
◆ 高分辨率：空間分辨率優(yōu)于400nm（特殊定制可達(dá)100nm）
◆ 寬視野：采用相同分辨率和掃描時(shí)間，F(xiàn)OV比同類系統(tǒng)大5倍以上
nano3DX典型應(yīng)用
日本理學(xué)nano3DX適用于逆向工程、產(chǎn)品研究、失效分析、高可靠篩選、質(zhì)量評(píng)價(jià)、改進(jìn)工藝等無(wú)損檢測(cè)和評(píng)估工作。常用于各類材料(如合成材料、陶瓷復(fù)合材料等)、電子半導(dǎo)體元器件、地礦標(biāo)本、仿生材料、生化物質(zhì)等的計(jì)算機(jī)斷層掃描成像，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：
◆ 材料學(xué)：結(jié)構(gòu)材料、復(fù)合材料的微觀特性分析，探討/解析樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)
l金屬材料、合金/鑄造：航空航天， 精密制造， 半導(dǎo)體零部件
l復(fù)合材料
l高分子材料/聚合物：纖維材料， 發(fā)泡材料， 橡膠， 樹(shù)脂， 高分子聚合物
◆ 工程材料：建筑材料內(nèi)部孔隙度、連通度和滲透性分析
◆ 儲(chǔ)能設(shè)備：質(zhì)量控制、新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的結(jié)構(gòu)試驗(yàn)、失效分析等
◆ 農(nóng)牧業(yè)：動(dòng)植物組織，木材和農(nóng)產(chǎn)品（如種子）的質(zhì)檢和分析
◆ 古生物學(xué)和考古學(xué)：種系鑒定、化石的結(jié)構(gòu)分析，文物保護(hù)和修復(fù)
◆ 地質(zhì)：礦物勘察、地質(zhì)分布、油氣藏開(kāi)發(fā)等
◆ 半導(dǎo)體：元器件的結(jié)構(gòu)分析
應(yīng)用案例：
CFRP材料曾被認(rèn)為很難通過(guò)X射線成像分析。由于nano3DX具有0.13g/cm3的密度分辨率，可以清晰的區(qū)分CFRP中碳纖維、環(huán)氧樹(shù)脂和材料孔隙的顯微結(jié)構(gòu)，以三維形式觀察，并可測(cè)量空隙數(shù)量、體積和方向。
碳纖維增強(qiáng)聚合物(CFRP)。圖像為1.8mm×1.8mm×1.4mm，體積由3300× 3300×2500體素表示。在相同的分辨率、時(shí)間范圍內(nèi)，單次掃描的測(cè)量體積比其他系統(tǒng)大25倍。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
