形狀測量激光顯微鏡
上海非利加實業有限公司
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解決問題 | |
激光掃描顯微系統可以解決所有的課題 | |
關于本產品的詳細內容,請使用右上方的圖標下載目錄后確認。 | |
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使用激光顯微系統則可全部簡單地實現 | ||||||||||||||||||
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產品特性 解決問題
激光掃描顯微系統可以解決所有的課題
關于本產品的詳細內容,請使用右上方的圖標下載目錄后確認。
使用激光顯微系統則可全部簡單地實現
光學顯微鏡 提升倍率后,難以對焦,分辨率不足。
SEM 前處理或樣本尺寸等的準備煩瑣,僅能以黑白色進行觀察。
粗糙度儀 不能夠實現***邊放大觀察,***邊對工件部位實施非破壞性的凹凸測量。
有限的分辨率和放大倍數 光盤坑 (6000 倍)
景深淺 刀尖 (1000 倍)
不支持可追溯性
高分辨率, 放大24000 倍 光盤坑(6000 倍)
完全聚焦的清晰圖像 刀尖(1000 倍)
符合溯源性要求 使用 VK 系列獲得的測量結果是高度可靠的測量數據,并且符合******標準溯源性。