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掃描電子顯微鏡（SEM）
德國KSI 型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:00
品 牌：型 號：i-Wafer
狀 態：正常點擊量：1532
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德***KSI-凱斯安i-Wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統
i-Wafer系列是***款高端儀器，操作人員可選擇接收/拒絕標準，手動或自動檢測晶圓。在KSI i-Wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發現。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
新型KSI i-Wafer晶圓缺陷檢測系統的主要特點：
- 掃描速度達2000mm/s
- 新型換能器
- 高質畫面
- 同時使用1只、2只、4只換能器提高效能
- 能發現只有幾微米的缺陷
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German ksi-kassian i-wafer type
Automatic wafer ultrasonic defect detection system
The i-wafer series is a high-end device for which the operator has the option of receiving/rejecting the standard ａnd checking the Wafer manually or automatically.Under the detection of the KSI i-wafer, pores, layers or impurities in the Wafer can be found.A variety of wafers with a size of 450mm can also be tested
滬公網安備31011502016460號
